Intelligent Wafer AOI Machine 2024
Sigma 系列
智能晶圆自动光学检测系统
(Intelligent Wafer AOI Machine)
艾德视觉科技 (Ideal Vision Integration Sdn Bhd) 的 Sigma设备,通过拥有高分辨率功能的彩色二维成像 (2D imaging) 与全自动化晶圆处理的机制, 有效地对各种晶圆进行缺陷分析与检测以达到高产量与提供可靠的检测结果与方案。艾德视觉 (Ideal Vision) 的专利之一, HDCompozite™ 结合了二维成像 (2D imaging) 与三维计量学 (3D metrology), 可提供完善的晶圆凸块高度检测与提升晶圆处理功能。此外, 该系统內的 JÄGER® vision 软件专为高速与精准的视觉检测应用程序而设。
特点:
模组化设计
- 自动化装卸功能
- 晶圆预先调整功能
- 提供双重检测站
- 图像处置功能
- 整合视觉检测工具
高清晰合成三维(3D) 检测 *
- 人工智能 *